实时全聚焦成像技术 相控阵检测仪

相控阵检测仪 实时全聚焦成像 | 支持二维面阵探头| CIVA-PA聚焦引擎
1)	实时全聚焦成像技术
全聚焦成像技术（TFM）通过特殊的的数据采集方法与成像技术能对缺陷进行非常精确的成像。使得超声检测在缺陷定量及定性上更加的准确。
2)	二维面阵探头高级扫查方法
GEKKO的全平行特点，可控制二维面阵探头进行更复杂的空间多角度扫查。在一些工件中缺陷的走向是随机的，而探头能摆放的位置是受限的。面阵探头则可以对不同走向的缺陷进行有效的检测。
可通过CIVA软件来进行复杂的聚焦设置，将聚焦法则导入GEKKO中。GEKKO与CIVA之间的数据兼容。